|
|
ков зависит от мощности источника и величины импеданса.
Отмеченные особенности распространения эл.-магн. вол и в Земле лежат и основе магнитотеллурич. методов геофиз. разведки ≈ магнитотеллурич. зондирования и профилирования, метода теллурич. токов. Эти методы используются для изучения внутр. электропроводности Земли, в разведочной геофизике ≈ для поисков полезных ископаемых: нефти, газат рудных месторождений. Разность потенциалов теллурич. тюля на расстояниях в тысячи км может достигать ио время маги, бурь неск. кВ. Поэтому интенсивность 3. т. учитывают при проектировании и эксплуатации подземных и подводных коммуникаций большой протяж╦нности.
Морская вода ≈ хороший проводник. Поэтому плот-яостп морских токов в сотни раз больше сухопутных. В крупномасштабных океанских течениях электрич. поля достигают десятков мкВ/м, магнитные ≈ десятков нТл. Морские токи создают помехи, к-рые необходимо учитывать при эксплуатации разл. приборов в морях и океанах. Намечаются пути использования морских токов в океанографии, при эл.-магн, зондировании дна океана, выясняется действие морских токов на ихтиофауну.
Лит.: Краев А. П., Основы геоэлектрики, 2 изд., Л., 1965; С о ч е л ь н и и о в В. В., Основы теории сстсствен-яого электромагнитного поля и море, Д., 1979; В а н ь я и Л. Д., Б у т и о л с н а я А. И., Магнитотеллурические зондирования слоистых сред, М., 1980; Ч е т а е в Д. Н,, Дирекционный .анализ магнптотеллурических наблюдений, М., 1985,
Г. А. Фонар╦в.
ЗЕРКАЛО оптическое ≈ оптич. деталь (выполненная на стекла, металла, ситалла или пласт-Л1асеы), одна из поверхностей к-рой обладает правильной формой, покрыта отражающим слоем и имеет шероховатость, не большую сотых долей длины волны света. В зависимости от типа покрытия различают 3, металлизированные, в к-рых отражающее покрытие выполнено из алюминият серебра, золота и др. металлов, и 3. диэлектрические с отражающим покрытием, образованным чередованием тонких слоев диэлектриков, напр, сернистого цинка, тр╦хсерпистого цинка и т.. н. Действие последних основано на явлении интерференции света, возникающей в тонких Слоях (см. Оптика тонких слоев). Вследствие .этого диэлектрич. 3. обладают ярко выраженной селективностью ≈ способностью отражать свет узкого спектрального диапазона, а также поляризацией.
Качество 3. тем выше, чем ближе форма его поверх) юсти к математически правильной (сфсрич., ци-липдрич., иараболоидалъной и т. д.). Широко применяют также плоские 3-, к-рые служат для изменения направления светояых лучей в соответствии с законом отражения от плоской поверхности. Положение изображения, даваемого 3., может быть получено из общих законов геометрической оптики. Если отражающая поверхность обладает осью симметрии, то положение предмета и его изображения связаны с радиусом кривизны г у вершины О {рис. 1} соотношением: l/s'-f-l/s≈
≈ 2/р, где s ≈ расстояние от вершины О 3. до предмета Л, s' ≈ расстояние до изображения А', Эта ф-ла
-строго выполняется в параксиальной области, т, е, при бесконечно малых углах лучей, образуемых с осью 3. Бесконечно малый отрезок прямой длиной /, перпендикулярной оси, изображается отрезком прямой Г, также перпендикулярным оси, прич╦м l'-=lsf/$, Если предмет находится на бесконечности, то s' равно фокусному расстоянию 3.: *'=/' = г/2. Фокальная плоскость находится на расстоянии г/2 от вершины 3. Зеркала обладают всеми аберрациями, свойственными обычным оптич. системам (см. Аберрации оптических систем), за исключением хроматических. Последнее обстоятельство делает особенно ценным применение 3, в астр, телескопах, в монохроматорах (особенно ИК) и др. приборах.
Привед╦м выражение для аберрации в изображении
бесконечно удаленного точечного источника, полученного с помощью одиночного 3. Если меридиональный луч образует с осью 3. угол w (рис. 2), то расстояние FA' между осью и точкой А' пересечения лучом фо-
|
|
1 ь
|
|
||
|
0
|
"*' с
|
1
|
||
|
|
ГА' '
|
|
||
|
|
\
|
L
|
||
|
|
\
|
|
||
