t
HO* fi |из. маятниковым решением.
н/к-рв^отстройке (ц^0| от угла Брэгга О перекач-ка неполная, а при уч╦те поглощении она носит затухающий характер. Структура пола такова, что дифракц. и up о ходящий лучи образуют единую самосогласованную систему, так что разделение поля на прошедшую и дифрагированную волны происходит не внутри кристалла, а на его выходной поверхности. Для толстых
кристаллов имеет место аномального припускания эффект. Среднее по Т значение интегральной интенсивности рассеянного излучения также определяется выражением (Н) при а = л/2.
Брэгговское отражение и лауэвское пропускание широко используются для монохроматизации и получения слабо расходящихся (ДЙ~1") интенсивных пучков рентгеновских лучей. Изучение Д. р. л. в совершенных кристаллах со слабыми искажениями позволяет получить информацию о типе к строении дефектов, их плотности и распределении по объ╦му [8] (см. Рентгеновская топография).
В рамках динаыич. теории Д. р. л. решены задачи рас II рост рани ни я роптг. излучения в совершенном кристалле с пост, градиентом деформаций, нарушенным при-nOBupxiiocT.ii ым слоем, в модулированных и многослойных кристаллах, что позволило ритять обратные задачи восстановления строения кристаллов с одномерным полем искажений по данным Д. р. л. В целом решены задачи дифракции коллиыированных и сферич, волн; рассмотрены нек-рые многолучевые задачи, а также случаи резко асимметричной дифракции, когда наряду с дифракцией имеет место полное внеш. отражение. Детальное понимание интерференционной структуры ноли излучения в кристалле при дин а ми ч. Д. р. л. позволило создать новые дифракц. методы исследования строения тонких приповерхпостных слоев монокристаллов [9J.
При внеш. возбуждении или неупругих процессах рассеяния рентг. лучей атомы кристалла могут стать источниками вторичного излучении, иекогирентного с падающим. При распространении этого излучения в кристалле наблюдаются етгецифич. дифракц. явления ≈ т. и. л и н к н К о с с е л я [1].
Дифракция гамма-лучей, нейтронов, электронов описывается в основном теми же закономерностями, что и Д. р. л., однако для каждого тннн излучения имеются сиецифич. особенности, определяемые величиной взаимодействия и длиной волны излучения (см. Дифракция частиц, Дифракция электронов. Дифракция нейтроноа). Динаиич. дифракция пожег наблюдаться и в оптич. диапазоне, напр. при распространении света в холостерических [10] н коллоидных жидких кристаллах.
Лит.: 1) Д ж е Я и с Р., Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей, т'р. с англ., М , 1УЫ1; У) Ж Д я IL и н Г. С., Основы рентгенUEиного структугшого анализа, М.≈ Л., 1940; 3) Г и н ь е А., Рентгенографии кристаллов, пер. е фргпщ., М.. 1961, 4) Пор^й-Кишид М. А., Практический ну ре ронггеносгруктурного анализа, т. 2, М., ISirtO; 5) И 11 г р о н п-D а В. И., Р^вк^ьич Г. II., Ttupwji patutmiHH рентгеновских лучей, 'I изд., М., 1В7й; 6)Скт1Ыщенский Д. Ф., Структурный анализ жидкостей и аморфные гол, '1 изд., М., 19ВО; 7) Кривоглаз М. Д., Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в нсид^альных кристаллах, К., 1УНЗ; Я) А м v-л и н но С., Методы ггрнмиго наблюдения дислокации [кристаллов], пер. с англ., М., 1S6S; 8) Афанасьев A.M.. Александров II. А., Имамов P.M., Рентгеновская структурная диагностика и исследовании приповррхлоел'пых слоев монокристяллоь. М.. 19&U; 1(1) Беляков В. Д., Сони л А. С., Оптика колестсрическик жидких кристаллов, М.. 1983; Н) П и и с к е р 3. Г., Рентген опека и кристаллооптика, М., 1982. А. В, Полными.
ДИФРАКЦИЯ СВЕТА ≈ в узком, но наиболее употребительном смысле ≈ огибание лучами света границы непрозрачных тел (экранов); проникновение света в область геом, тони. В широком смысле Д. с,≈ проявление волновых свойств света в предельных условиях перехода от волновой оптики к геометрической, При-,_. мерами Д. с., понимаемой в широком смысли, явля-О/4 ютсн рассеяние света капельками тумана., формирова-
ние изображения оптич. системами (напр., микроскопом) и т. п. Наиб, рельефно Д. с. проявляется н областях резки го изменения плотности потопа лучей: вблизи каустик, фокуса линзы, границ геом. тени и др.
Д. с. как волновое явление, исчезающее в пределе Х- «О, зависит от длины волны света Я. Красный свет сильнее дифрагирует (сильнее отклоняется границами тел], чем фиолетовый, т. о. разложение белого света в спектр, вызванное дифракцией, имеет обратную последовательность цветов по сравнению с получающейся при разложении света в приеме. Это различие часто является решающим при выяснении природы многих атм. оптич. явлений.
Проникновение света п область геом. тени было из-весию уже в 16 ≈ 17 вв., однако объяснение этому было дано лишь в 19 в. Тогда были выдвинуты и развиты две, казалось бы, не имеющие ничего общего концепции Д. с. Т. Юнг (Th. Young; 1800) предположил, что Д. с. обусловлена диффузией световых волн вдоль волновых фронтон. Чередование т╦мных и светлых полос на границе тени н света он считал результатом интерференции падающей плоской волны и вторичной, цилиндрической, связанной с диффузией. Вторичная, цплиндрич. волна принимается из области глубокой тени как ярко светящаяся грань экрана. Юнг не развил количеств, методов расч╦та Д. с., и его концепция долго не находила поддержки.
Приближ╦нная теории Д. с. создана а 1816 О. Френелем (A. Fresnel). Д. с., по Фри-ислю, - результат интерференции вторичных ноли (см. Г юйгепхл≈ Френеля
Рис. ,. оерезакие волно-цип). Несмотря Era недостат- вот фронта краями экрана. ки, эта теория сохранила
свое" значение и служит основой расч╦тов дифракц. эффектов в инструментальной оптике.
В теории Френеля амплитуда Up светового поля а точке наблюдения Р (рис. 1) слагается из парциальных амплитуд сферич. волн, испускаемых всеми элементами dS поверхности S, не накрытой экраном:
(ikr) г-1 cos (nr),
(1)
где It ≈ волновой виктор (fc=2 л/Я), п ≈ нормаль к
/*\
dS, г ≈ расстояние от Р до dS, nr ≈ угол дифракции, и? ≈ значение поля на S и A = ilK ≈ константа, опре-
Рнс. 2. Дифракция на круглом отверстии при открытом неч╦тном (о) и ч╦тном (В) числе зон.
деляющая интенсивность дифрагированной волны. Френель предложил приближ╦нный метод вычисления интеграла (1), заключающийся в разбиении поверхности S, совмещенной с фронтом падающей волны, на т. н. Френеля зоны, расстояния от края к-рых до точки Р отличаются на Я/2. Поэтому соседние зоны вносит в
