ее
О
и О
ш
S
ч
592
4|кгЛа111о»олн1Ощеи существенно повысить его разре-ш1юйто.способность, нвлнетсн лазерная Д., в к-рой %Cnorfb3j*ffn дифракция KorepCErmoro лазерного луча с индикацией при помощи фотоэлектронных приборов. При автоматизации оптич. метода контроля применяют телевиа. передачу изображения,
Радиационная Д. основана на зависимости поглощения проникающего излучения от длины пути, пройденного им в материале изделия, от плотности материала и атомного номера элементов, входящих в его состав. Наличие в изделии нарушений сплошности, инородных включений, изменения слитности и толщины приводит к разл. ослаблению лучей а разл. его сечениях. Регистрируя распределение интенсивности прошедшего излучения, можно получить информацию О внутр. структуре изделия, в т. ч. судить о наличии, конфигурации и координатах дефектов. При этом могут использоваться проникающие излучения раял. ж╦сткости; рентг. излучение С энергиями 0,01 ≈ 0.4 МэВ; излучение, полученное в линейном (2≈25 МэВ) и диклич, (бетатрон, микротрон 4≈45 МэВ) ускорителях или в ампуле с р-активными радиоизотопами (0,1 ≈ 1 MriB); гамма-излучение с энергиями 0,08≈1,2 МэВ; нейтронное излучение с энергиями 0,1≈15 МэВ.
Регистрация интенсивности прошедшего излучения осуществляется разл. способами ≈ фотшрафич. методом с получением изображения просвечиваемого изделия на фотопл╦нке (пл╦ночная радиография), на многократно используемой ксерорадиографич. пластинке (электрорадиографня); визуально, наблюдая изображения просвечиваемого наделил на флуоресцирующем экране (радиоскопия]; с помощью электроппо-оптич. преобразователей (рентгепотмтевидение); измерением интенсивности излучения спец. индикаторами, действие к-рых основано на ионизации гяяа излучением (радиометрии).
Чувствительность методов радиац. Д, определяется отношением протяженности дефекта или зоны, имеющей отличающуюся плотность, в направлении просвечивания к толщине изделия в этом сечении и для разл. материалов составляет от 1 по 10% его толщины. Применение рентг. Д. эффективно для изделий ср. толщин (стиль до ≈80 мм, л╦гкие сплавы до ~250 мм). Сверхж╦сткое излучение с анергией в десятки МэВ (бетатрон) позволяет просвечивать стальные изделия толщиной до ~500 мм. Гамма-Д. характеризуется большей компактностью источника излучения, что позволяет контролировать труднодоступные участки изделии толщиной до ~-250 мм (сталь), притом в условиях, когда рентг. Д. затруднена. Нейтронная Д. наиб, эффективна для контроля изделий небольшой толщины из материалов малой плотности. Один из новых способов рентгеноконтроля ≈ вычислит, томография, основанная на обработке радиометрнч. информации с помощью ЭВМ, получаемой при многократном просвечивании изделий под разными углами. При этом уда╦тся послойно вкэузлизиропать изображения внутр. структуры изделия. При работе с источниками ионизирующих излучений должна быть обеспечена соответствующая бкол. защита.
Ради о воякова я Д. основана па изменении параметром эл.-ыагн. волн (амплитуды, фазы, направления вектора поляризации) сантиметрового И миллиметрового диапазона при распространения их в изделиях из диэлектрических материалов (пластмассы, резина, бумага).
Истопником излучения (обычно -- когерентного, поляризованного) является генератор СВЧ (магистрои-ный, клистронный) небольшой мощности, питающий волновод или спец. антенну (аонд), передающую излучение в контролируемое изделие. Та же антенна при при╦ме отраженного излучения или аналогичная, расположенная с противоположной стороны изделия,≈ при приеме прошедшего излучения пода╦т полученный сигнал через усилитель на индикатор. Чувствительность метода позволяет обнаруживать в диэлектриках
на глубине до 15≈20 мм расслоения площадью от 1 см2, измерять влажность бумаги, сыпучих материалов с погрешностью менее ±1%, толщину металяич. листа с цо г ре ш костью менее ±0,1 им и т. Д. Возможны визуализация изображения контролируемой зоны аа экране (радиовизор), фиксация его на фотобумаге, а также применение голографич. способов фиксации изображения.
Тепловая (инфракрасная) Д. основана на зависимости темп-ры поверхности тела как в стационарных, так и в нестационарных полях от наличия дефекта и НУОДЕГО-родности структуры тела. При этом используется ИК-излучс-пис в низкотемпературном диапазоне. Распределение темп-р на поверхности контролируемого изделия, возникающее и проходящем, отраж╦нном или собственном излучении, иредстаилнет собой ИК-изображение данного участка изделия. Сканируя поверхность приемником излучения, чувствительным к ИК-лучам (тер-мнстором или пироэлектриком), на экране прибора (тепловизора) можно наблюдать светотеневое или цветное изображение целиком, распределение темп-р со сечеяиям или, наконец, выделить отд. изотермы. Чувствительность тепловизоров позволяет регистрировать на поверхности изделия разность темп-р менее 1 "С. Чувствительность метода зависит от отношения размера d дефекта или неоднородности к глубине / его яалегания примерно как (d/l)*, а также от теплопроводности материала изделия (обратно пропорциональная зависимость). Применяя тепловой метод, можно контролировать изделия, нагревающиеся (охлаждающиеся) во время работы.
Магнитная Д. может применяться только для изделий из форромагн. сплавов и реализуется Р двух вариантах. Первый основан на анализе параметров магн. полей рассеяния, возникающих в зонах расположения поверхностных и подповерхностных дефектов в намагниченных изделиях, второй ≈ на зависимости магн. свойств материалов от их структуры и хим. состава.
При контроле по первому способу изделие намагничивается с помощью электромагнитов, соленоидов, пут╦м пропускания тока через изделие или стержень, продетый сквозь отверстие в изделии, либо индуцнрова-ния тока в изделии. Для намагничивания используются постоянные, переменные и импульсные цагн. поля. Оптим. условия контроля создаются при ориентировке дефекта перпендикулярно направлению намагничивающего поля. Для магнитно-твердых материалов контроль осуществляется в поле остаточной намагниченности, для магнитно-мягких ≈ в приложенном поле.
Индикатором магн. поля дефекта может служить ингн. порошок, напр, магнетит высокой дисперсности (метод маги, порошка), к к-рому ипогда добавляются окрашивающие (для контроля изделий с т╦мной поверхностью) или флуоресцирующие (для повышения чувствительности) компоненты. Частицы порошка после посыпания шщ поливки суспензией намагниченного изделии оседают на краях дефектов я наблюдаются ви-зуалыю. Чувствительность этого метода высока ≈∙ обнаруживаются трещины глубиной ~25 мкм и раскрытием ~2 мкм.
При магнитографич. методе индикатором служит наги, лента, к-рая прижимается к изделию и намагничивается вместе с ним. Выбраковка производится по результатам анализа записи на магн. ленте. Чувствительность метода к пояерхностным дефектам такая же, как у порошкового, а к глубинным дефектам выше ≈ на глубине до 20≈25 мм обнаруживаются дефекты протяж╦нностью по глубине 10≈15% от толщины.
В качестве индикатора поля дефекта могут использоваться пассивные индукционные преобразователи. Изделие, движущееся с относит, скоростью до 5 м/с н более, после прохождения через намагничивающее устройство проходит через преобразователь, индуцируя в его катушках сигнал, содержащий информацию о параметрах дефекта. Такой способ эффективен для
