|
|
малыо к зеркалам. Пройдя через объектив выходного коллиматора, когерентные волны интерферируют Е его фокальной плоскости F и образуют пространств, ян-терфереиц. картину в виде колец равного наклона (рис. 2). Распределение интенсивности (освещ╦нности) в интерференц. картине описывается выражением /=
= tKBT(j/fl, где В ≈ яркость источника, тк ≈ коэф,
пропускания объективов коллиматоров, о ≈ площадь сечения осевого параллельного пучка, /2 ≈ фокусное расстояние объектива выходного коллиматора, Т ≈ ф-ция пропускания И. Ф.≈ П.
макс
Где
Т ≈
J макс ≈
I _ i-л
я
Г'
и
и
а ≈ "
Рис. 2. Структура интерфе- no≈ n т
ренциониых полос и фокалъ- ] * * "t\L V>' т'
ной плоскости ныходного соответственно коэф. нропу-
ноллииатора. скания, отражения и погло-
щения зеркал, прич╦м т+
-|_р-|-а=1. ф-ция пропускания Т, а следовательно, и распределения интенсивности имеет осциллирующий характер с резкими максимумами интенсивности (рис. 3), положение к-рьгк определяется из словия
~2^н- cos О≈
макс
где m (целое число)
порядок спектра, X ≈ длина волны. Посредине между соседними максимумами ф-ция Т имеет минимумы
Поскольку положение интерференц. максимумов зависит от угла 0 и равного ему угла % выхода лучей из второй стеклянной пластинки, то интсрфереиц. картина имеет форму концсптрич. колец (рис. 2), определяемых условия 9макс ≈ 7макс ≈ const, локализованных в об-
ти геом. изображения входной диаграммы D = ву/а//1 (рЦ-c* 1)- Радиус этих колец равен rm^=
2(1≈ mA/2d), откуда следует, что при wi= const имеется однозначная зависимость между rm и Я и, следовательно, И. Ф. ≈ II. производит пространств, разложение излучения в спектр. Линейное расстояние между максимумами соседних колец и ширина этих колец (рис. 3) уменьшаются с увеличенном радиуса, т. е. с увеличением' rm интерференц. кольца становятся уже н сгущаются.' Ширина колец Дг зависит также от коэф.
Рис. 3. Схема сечения интерференционной картины и i'e параметры; rfo ≈ диаметр выходной диафрагмы D.
отражения р н уменьшается с увеличением р. Разность
Квадратов радиусом соседних колец rm≈rm+i~f&fd линейно связана с длиной волны, и потому это соотношение используется при определении разностей длин волн. Смещение максимумов пропускания И. Ф.≈ II. с изменением длины волны определяется у г л о в о я дисперсией dyJd\=^≈(K tg x)"1» к-рая при малых углах (%~10~2 рад) значительно превышает угл. дисперсию приименных и дифракц. спектрометров, что яв-
ляется его преимуществом. Линейная дисперсия равна
'=≈ fl&r cos3x)- Однако область дисперсии ДЯ^ cos x обычно очень мала, о этом недостаток И. Ф.≈ П. Спектральная ширина аппаратной функции И. Ф.≈ П. (иитсрфсренц. максимума) определяется
выраженном
ЯгО-Р>
2л У р rfcos ∙/ а теорстич. разрешающая способность
└ Я 6 V р of ROS у.
раст╦т с увеличением коэф. отражения р п расстояния между зеркалами d. Предел увеличения р определяется уменьшением Т^кс~ [т/(т-]-а)]2 и дефектами изготовле-
ния плоскосте И. Ф. ≈ П. Увеличение Л└ за счет увеличения d вед╦т к уменьшению ДХ. При фотогр. регистрация спектра фотопластинка устанавливается в фокальной плоскости F (рис, 1). При фотозлектрич. регистрации в фокальной плоскости F на оптпч. оси И. Ф. ≈ П. обычно устанавливается круговая диафрагма, диаметр к-рой равен линейной ширине центр, мак-
симума d(,≈ 2г0^2/2У^2/Л0. При этом поток излучения, проходящий через диафрагму н падающий па при╦мник излучения, равен Ф^З^^Т^^сПо/П^ где Ли ≈ реальная разрешающая сила. Регистрация спектра производится плавным изменением d или п. Светосила реального И. Ф.≈ П. в несколько сотой раз больше светосилы дифракц, спектрометра при равной разрешающей способности, что является его преимуществом. Т. к. И. Ф,≈ П., обладая высокой разрешающей силой, имеет очень маленькую область дисперсии, то при работе с ним необходима предварительная монохромати-зация, чтобы ширина исследуемого спектра была меньше ЛЯ,. Для отой цели применяют часто приборы скрещенной дисперсии, сочетая И. Ф.≈ П. с пршмен-ным или дифракц. спектрографом тяк, чтобьт направления дисперсий И. Ф. ≈ П. и спектрографа были взаимно перпендикулярны. Иногда для увеличения области дисперсии используют систему из двух поставленных друг за другом И. Ф.≈ П. с разл. величиной расстояния d, так чтобы их отношение di/dz равнялось целому числу. Тогда область дисперсии ДХ определяется более «тонким» И. Ф. ≈ П., а разрешающая сила ≈ более «толстым». При установке двух одинаковых И. Ф. ≈ П. увеличивается разрешающая сила и повышается контраст интерференционной картины.
И. Ф. ≈ П. широко применяются в УФ-, видимой п ИК-областях спектра при исследовании тонной и сверхтонкой структуры спектральных линий (см. Атомные спектры), для исследования модовой структуры излучения лазеров и т. п. И. Ф. ≈ П, также используется
как резонатор в лазерах.
Лит,: Тарасов К, И,, Спектральные приборы, 2 над., Л., 1077; 3 а и д е л ь А. Д., О с т р о D с к а л Г. В., Островский Ю. И., Техника п практика спектроскопии, М., 1972; Малышев В. И., Впадение в экспериментальную спектроскопию, М., 1979; см, также лит. при ст. Цнтерферо-Мстр. В. И. Малыше а.
ИНФОРМАТИКА ≈ наука об общих свойствах инфор-мации9 закономерностях и методах е╦ поиска и получения, записи, хранения, передачи, переработке, распространения и использования в разл, сферах человеческой деятельности. Формирование И. как науки связано с появлением и развитием электрошю-вычислпт. техники. Опыт моделирования, построения алгоритмов и составления программ для решения конкретных научных и техн. задач па ЭВМ, согласования мощности и структуры вычислит, средст» со сложностью и характером этих задач стали важнейшей частью И. Эта предметная область оста╦тся для И. основной и допускает более узкое и конкретное толкование термина «И.» как науки о процессах и методах обработки информации. И. объединяет все вопросы применения вычислит. техники, стимулирует е╦ совершенствование и определяет нуги е╦ развития.
О
е
175
