1tom - 0541.htm
о
X
и
О
Ш
е
592
тода, позволяющей существенно повысить его разрешающую способность, является лазерная Д., в к-рой используется дифракция когерентного лазерного луча с индикацией при помощи фотоэлектронных приборов. При автоматизации оптич, метода контроля применяют телевиз. передачу изображения.
Радиационная Д. основана на зависимости поглощения проникающего излучения от длины пути, пройденного им в материале изделия, от плотности материала и атомного номера элементов, входящих в его состав. Наличие в изделии нарушений сплошности, инородных включений, изменения плотности и толщины приводит к разл. ослаблению лучей в разл. его сечениях. Регистрируя распределение интенсивности прошедшего излучения, можно получить информацию О внутр. структуре изделия, вт. ч. судить о наличии, конфигурации и координатах дефектов. При этом могут использоваться проникающие излучения разл. ж╦сткости: рентг. излучение с энергиями 0,01≈0,4 МэВ; излучение, полученное в линейном (2≈25 МэВ) и циклич. (бетатрон, микротрон 4≈45 МэВ) ускорителях или в ампуле с Реактивными радиоизотопами (0,1 ≈ 1 МэВ); гамма-излучение с энергиями 0,08≈1,2 МэВ; нейтронное излучение с энергиями 0,1 ≈ 15 МэВ.
Регистрация интенсивности прошедшего излучения осуществляется разл. способами ≈ фотографии, методом с получением изображения просвечиваемого изделия на фотопл╦нке (пл╦ночная радиография), на многократно используемой ксерорадиографич. пластинке (электрорадиография); визуально, наблюдая изображения просвечиваемого изделия на флуоресцирующем экране (радиоскопия); с помощью электронно-оптич. преобразователей (рентгеиотелевидеяие); измерением интенсивности излучения спец. индикаторами, действие к-рых основано на ионизации газа излучением (радиометрия).
Чувствительность методов радиац. Д. определяется отношением протяж╦нности дефекта пли зоны, имеющей отличающуюся плотность, в направлении просвечивания к толщине изделия в этом сечении и для разл. материалов составляет от 1 до 10% его толщины. Применение рентг. Д. эффективно для изделий ср. толщин (сталь до ~80 мм, л╦гкие сплавы до ~250 мм). Сверхж╦сткое излучение с энергией в десятки МэВ (бетатрон) позволяет просвечивать стальные изделия толщиной до ~500 мм. Гамма-Д. характеризуется большей компактностью источника излучения, что позволяет контролировать труднодоступные участки изделий толщиной до ~250 мм (сталь), притом в условиях, когда рентг, Д. затруднена, Нейтронная Д. наиб, эффективна для контроля изделий небольшой толщины из материалов малой плотности. Один из новых способов рентгеноконтроля ≈ вычислит. томография, основанная на обработке радиометрич. информации с помощью ЭВМ, получаемой при многократном просвечивании изделий под разными углами. При этом уда╦тся послойно визуализировать изображения внутр. структуры изделия. При работе с источниками ионизирующих излучений должна быть обеспечена соответствующая биол. защита.
Радиоволновая Д. основана на изменении параметров эл.-магн. волн (амплитуды, фазы, направления вектора поляризации) сантиметрового и миллиметрового диапазона при распространении их в изделиях из диэлектрических материалов (пластмассы, резина, бумага).
Источником излучения (обычно ≈ когерентного, поляризованного) является генератор СВЧ (магнетрон-ный, клистронный) небольшой мощности, питающий волновод или спец, антенну (аонд), передающую излучение в контролируемое изделие. Та же антенна при при╦ме отраж╦нного излучения или аналогичная, расположенная с противоположной стороны изделия,≈ при при╦ме прошедшего излучения пода╦т полученный сигнал через усилитель на индикатор. Чувствительность метода позволяет обнаруживать в диэлектриках
на глубине до 15≈20 мм расслоения площадью от 1 см2, измерять влажность бумаги, сыпучих материалов с погрешностью менее ±1%, толщину металлич. листа с погрешностью менее ±0,1 мм и т. д. Возможны визуализация изображения контролируемой зоны на экране (радиовизор), фиксация его на фотобумаге, а также применение голографич, способов фиксации изображения.
Тепловая (инфракрасная) Д. основана на зависимости темп-ры поверхности тела как в стационарных, так и в нестационарных полях от наличия дефекта и неоднородности структуры тела. При этом используется ИК-излучепие в низкотемпературном диапазоне. Распределение темп-р на поверхности контролируемого изделия, возникающее в проходящем, отраж╦нном или собственном излучении, представляет собой ИК-изображение данного участка изделия. Сканируя поверхность при╦мником излучения, чувствительным к ИК-лучам (тер-мистором или пироэлектриком), на экране прибора (тепловизора) можно наблюдать светотеневое или цветное изображение целиком, распределение темп-р по сечениям или, наконец, выделить отд. изотермы. Чувствительность тепловизоров позволяет регистрировать на поверхности изделия разность темп-р менее 1 °С. Чувствительность метода зависит от отношения размера d дефекта или неоднородности к глубине I его залегания примерно как (d/Z)2i а также от теплопроводности материала изделия (обратно пропорциональная зависимость). Применяя тепловой метод, можно контролировать изделия, нагревающиеся (охлаждающиеся) во время работы.
Магнитная Д. может применяться только для изделий из фсрромагн. сплавов и реализуется в двух вариантах. Первый основан на анализе параметров магн. полей рассеяния, возникающих в зонах расположения поверхностных и подповерхностных дефектов в намагниченных изделиях, второй ≈ на зависимости магн. свойств материалов от их структуры и хим. состава.
При контроле по первому способу изделие намагничивается с помощью электромагнитов, соленоидов, пут╦м пропускания тока через изделие или стержень, продетый сквозь отверстие в изделии, либо иидуцирова-ния тока в изделии. Для намагничивания используются постоянные, переменные и импульсные магн. поля. Оптим. условия контроля создаются при ориентировке дефекта перпендикулярно направлению намагничивающего поля. Для магнитно-тв╦рдых материалов контроль осуществляется в поле остаточной намагниченности, для магнитно-мягких ≈ в приложенном поле.
Индикатором магн. поля дефекта может служить магн. порошок, напр, магнетит высокой дисперсности (метод магн. порошка), к к-рому иногда добавляются окрашивающие (для контроля изделий с т╦мной поверхностью) или флуоресцирующие (для повышения чувствительности) компоненты. Частицы порошка после посыпания или поливки суспензией намагниченного изделия оседают на краях дефектов и наблюдаются визуально. Чувствительность этого метода высока ≈ обнаруживаются трещины глубиной ~25 мкм и раскрытием ~2 мкм.
При магнитографич. методе индикатором служит маги, лента, к-рая прижимается к изделию и намагничивается вместе с ним. Выбраковка производится по результатам анализа записи на магн. ленте. Чувствительность метода к поверхностным дефектам такая же, как у порошкового, а к глубинным дефектам выше ≈ па глубине до 20≈25 мм обнаруживаются дефекты протяж╦нностью по глубине 10≈15% от толщины.
В качестве индикатора поля дефекта могут использоваться пассивные индукционные преобразователи. Изделие, движущееся с относит, скоростью до 5 м/с и более, после прохождения через намагничивающее устройство проходит через преобразователь, индуцируя в его катушках сигнал, содержащий информацию о параметрах дефекта. Такой способ эффективен для
")
}
